主要用于設(shè)計公司的測試程序（常溫、高溫、低溫）和小批送樣的驗證工作。
用于實驗室環(huán)境的IC測試分類，具備體積小，集成化高等特征。兼容ATE測試機與SLT測試板設(shè)計，最多支持2工位同測，支持常溫、高溫、低溫測試要求。
